L'obiettivo del progetto è acquisire, all'interno della piattaforma PISARRO, uno spettrometro fotoelettronico indotto da raggi X, con stripping a grappolo, doppio anodo e modulo di temperatura. Questa apparecchiatura rafforzerà le capacità analitiche della piattaforma, con l'acquisizione della tecnica XPS, identificata come tecnica all'avanguardia nell'analisi su scala nanometrica.