O objectivo deste projecto é a renovação de um dos microscópios electrónicos de varrimento (SEM), disponível para a Secção de Microscopia, por um novo microscópio electrónico de varrimento com emissão de campo equipado com um feixe de iões (FIB), com modo de trabalho em crio e com detector de microanálise e com uma resolução a 30 KV de 3 nanómetros. O equipamento SEM disponível para a secção é um com mais de 25 anos e o outro com 10 anos de idade. Os avanços tecnológicos dos últimos anos desenvolveram novas técnicas acopladas aos equipamentos SEM._x000D_ Nos últimos anos, foram desenvolvidos avanços tecnológicos que foram incorporados aos equipamentos SEM. Entre eles, a técnica FIB combinada com um MEV abre a porta para uma nova dimensão, possibilitando o estudo da estrutura tridimensional em alta resolução, atingindo uma resolução em Z da ordem dos nanómetros, eliminando camadas da amostra sob a acção do feixe de iões. Isto supõe um salto qualitativo enorme do salto comparado à microscopia de varredura de alta resolução convencional.