Aquisição de um microscópio electrónico de varrimento com emissão de campo de ultra-alta resolução para substituir o JEOL 840 que está a trabalhar há 33 anos._x000D_ O novo equipamento deve ser equipado com um canhão de electrões cónico de alto brilho e uma lente objectiva de baixa aberração._x000D_ A adopção do tipo de canhão de electrões Schottky oferece análise estável com uma sonda de alta corrente. Deve ter a opção de trabalhar no vácuo, permitindo trabalhar com amostras biológicas ou amostras não condutoras sem tratamento até uma pressão de 300 Pa na câmara._x000D_ Aquisição de toda a informação com vários detectores, incluindo detector de electrões secundários, detector de electrões retrodispersos e um detector de electrões para STEM._x000D_ Sistema de microanálise EDX para SEM / STEM._x000D_ Deve conter o acessório 3View®2XP (Gatan Inc.) que está incorporado no microscópio electrónico de varrimento de emissão de campo e que torna possível criar automaticamente secções transversais da amostra e imagens em série. A reconstrução 3D das imagens adquiridas permite a análise detalhada das estruturas finas em três dimensões._x000D_ Não existe um microscópio próximo com características semelhantes às solicitadas com a vocação de ser um serviço de apoio à pesquisa e ao ensino.