Raziskovalna skupina iz različnih delovnih skupin HI Jena in FSU Jena si je zastavila cilj, da razvijeta dve metodi – koherentno difrakcijsko sliko (CDI) in XUV Coherence Tomography (XCT) za pripravo aplikacije in ju končno pretvorita v kombinirano metodo, da bi dosegli presečno sliko z ločljivostjo nanosov v vseh treh prostorskih smereh. Hkrati je treba za vzpostavitev tega novega slikanja razviti vire in detektorje XUV, ki so optimalno prilagojeni tem metodam.